EEsof EDA SystemVue 2013 (K5990-4731)
IC-CAP WaferPro - программная среда для автоматизированных измерений ВАХ, ВФХ и ВЧ характеристик (K5990-6494RU)
Библиотеки компонентов для САПР Keysight EEsof EDA (K5989-7544RU)
Использование САПР SystemVue компании Agilent для создания сценариев испытания систем РЛС и РЭБ (5990-7533)
Комплексное решение для эффективного тестирования систем РЛС и РЭБ (K5991-2892RU)
Основные возможности САПР Advanced Design System (ADS) (K5990-6464)
Программное обеспечение W2200 ADS Core (K5990-3916RU)
САПР IC-CAP для моделирования полупроводниковых устройств (5965-7742)
Среда создания 3D моделей и электромагнитного моделирования, интегрируемая в маршрут проектирования САПР ADS (5990-4819RU)
Современные программные средства ЭМ моделирования в СВЧ диапазоне (5990-3225)