Первый в отрасли анализатор силовых полупроводниковых приборов

19.06.2014

Компания Agilent Technologies представила первый в отрасли анализатор силовых полупроводниковых приборов для разработки силового оборудования. Agilent B1506A представляет собой одноприборное решение, автоматически измеряющее все параметры силовых полупроводниковых приборов в широком диапазоне рабочих режимов и температур (от –50 °C до +250 °C) при токах до 1500 А и напряжениях до 3 кВ.

Инженеры-схемотехники применяют силовые полупроводниковые приборы в разнообразных изделиях, и поэтому им нужно точно знать параметры этих приборов в широком диапазоне условий применения. Однако технические описания силовых полупроводниковых приборов обычно предоставляют их характеристики лишь в ограниченном диапазоне условий, а измерение этих характеристик является весьма непростой задачей. Предлагая простой автоматический способ измерения параметров силовых полупроводниковых приборов, анализатор Agilent B1506A отлично справляется с этим.

B1506A измеряет и оценивает все параметры, включая получаемые из вольт-амперных характеристик (например, напряжение пробоя и сопротивление в открытом состоянии), три вида ёмкости (входная, выходная и проходная) при большом напряжении смещения, заряд затвора, время переключения и потери мощности. Кроме того, он позволяет полностью автоматически измерять температурные зависимости всех параметров в диапазоне от –50 до +250 ºC и совместим с автоматизированными системами Thermal Plate или Thermostream компании inTest Corp. Интуитивный графический интерфейс пользователя позволяет даже новичкам без труда извлекать наиболее важные параметры устройств в широком диапазоне токов, напряжений и температур. Всё это делает B1506A идеальным прибором, помогающим разработчикам выбрать нужную элементную базу для проектируемой схемы, а изготовителям силовых полупроводников выполнять входной контроль и анализировать отказы.

Основные функции анализатора силовых полупроводниковых приборов B1506A включают:

o Измерение всех параметров ВАХ (сопротивление в открытом состоянии, напряжение пробоя, ток утечки, пороговое напряжение, напряжение насыщения и т.п.), входных, выходных характеристик и емкостей транзисторов (входная, выходная и проходная ёмкости для полевых и биполярных транзисторов, сопротивление затвора) при больших напряжениях смещения.

o Измерение кривой Qg.

o Тепловые испытания (от –50 до +250 °C).

o Оценка рассеиваемой мощности (потери на электропроводность, потери возбуждения и коммутационные потери).

o Режим осциллографа, поддерживающий визуальное представление импульсных сигналов для проверки реального рабочего смещения и момента срабатывания.

o Уникальный программный интерфейс, имитирующий условия, указанные в техническом описании и предлагающий интуитивную и полностью автоматическую измерительную среду, не требующую специального обучения.


Рейтинг@Mail.ru