Компания Keysight Technologies продемонстрировала новейшие решения для проектирования, тестирования и измерения параметров устройств на Европейской микроволновой неделе

21.09.2015 11:28

Компания Keysight Technologies продемонстрировала широкий диапазон решений для проектирования, тестирования и измерения параметров устройств на Европейской микроволновой неделе 2015, которая прошла в Париже с 8 по 10 сентября.

Специалисты Keysight продемонстрировали новейшие высокопроизводительные аппаратные и программные решения. Это именно те инструменты, которые нужны современным инженерам для тщательного проектирования, тестирования и измерения параметров компонентов, применяемых в радиолокационных системах, антеннах и беспроводных устройствах следующего поколения.

На выставке были представлены следующие решения

Решения для проектирования ВЧ и СВЧ схем

  • САПР ADS Keysight EEsof EDA – лучшее в отрасли программное обеспечение для автоматизированного проектирования электронных устройств для ВЧ и СВЧ приложений. Специалисты Keysight продемонстрировали его применение для разработки ВЧ ИС и СВЧ устройств, включая совместную работу САПР ADS с ПОVirtuoso, а также применение электромагнитного моделирования в САПР KeysightEMPro для проектирования ВЧ ИС, модулей и их корпусов.

Контрольно-измерительные решения для миллиметрового и терагерцового диапазонов

  • Генерация и анализ разнообразных широкополосных сигналов миллиметрового диапазона, таких как 5G, 802.11ad, и транспортные протоколы, включая цифровую модуляцию и ее анализ.
  • Решения для тестирования устройств и измерения диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь диэлектрических материалов в миллиметровом и терагерцовом диапазоне. Это особенно важно для радиопоглощающих материалов, диэлектрических подложек, материалов для микроволновых печей и биотоплива.

Решения для измерения характеристик материалов и компонентов

  • Измерение электрической ёмкости в наномасштабе с помощью уникального режимаСканирующего микроволнового микроскопа Keysight (SMM), который объединяет всеобъемлющие электрические измерения векторного анализатора цепей с превосходным пространственным разрешением атомно-силового микроскопа (AFM).
  • Полное измерение линейных и нелинейных параметров с помощью Keysight PNA-X– самой насыщенной и гибкой измерительной платформы, предназначенной для работы с современными активными устройствами, такими как усилители, смесители и преобразователи частоты.
  • Модульные решения в формате PXI для производственных и исследовательских лабораторий, включая многофункциональные и многопортовые масштабируемые измерительные стенды, в состав которых входит полный двухпортовый векторный анализатор цепей Keysight в формате PXI, занимающий всего один слот. Модульные решения Keysight опираются на метрологические принципы, заимствованные у настольных приборов и позволяющие выполнять быстрые и точные измерения, одновременно сокращая стоимость тестирования.

Приложения для РЛС и РЭБ

  • Моделирование среды РЭБ (радиоэлектронной борьбы) с несколькими излучателями для получения полной информации о параметрах систем РЭБ с помощью генератора Keysight UXG с ПО Signal Studio для генерации сценариев с несколькими излучателями. Анализ и измерение импульсных характеристик с помощьюПО Keysight 89600 VSA.
  • Контрольно-измерительные системы следующего поколения для РЛС и систем РЭБ, которые должны работать в среде с многочисленными маскирующимися и динамически изменяющимися источниками излучения. Контрольно-измерительные решения Keysight предлагают модульные приборы, отвечающие требованиям многоканальности и перестраиваемой многофункциональности широкополосных РЛС следующего поколения.
  • Генерация и анализ широкополосных многотональных и модулированных сигналов частотой до 2 ГГц с помощью решения для анализа сигналов Keysight Z9070B.
  • Измерение ВЧ и СВЧ сигналов в полевых условиях с помощью анализатораKeysight FieldFox для работы с РЛС, спутниковым оборудованием и антенно-фидерными системами.


Специалисты компании Keysight провели ряд семинаров, посвящённых проектированию ВЧ и СВЧ схем, измерениям в миллиметровом и терагерцовом диапазоне, измерению параметров материалов и компонентов, тестированию РЛС и систем РЭБ.


Рейтинг@Mail.ru